[知識分享站] 國際專利分類號加入了Inspec-搭起專利檢索與學術研究的橋樑

自2010年開始，國際工程技術學會 ( IET，前身為IEE) 經由世界智慧財產權組織 (WIPO) 同意，將國際專利分類號 (International Patent Classification) 加入了Inspec資料庫中 (IET, 2010)，此舉表示在Inspec中收錄的近萬種的期刊、會議論文集、圖書、技術報告、博碩士論文中已有75%、超過820萬篇的紀錄加上了IPC分類號。研究及開發人員透過Inspec將容易了解學術研究文獻中應用到的專利技術類型以及進行知識盤整，甚至在架構專利知識地圖與專家知識專長地圖時將更完整、更輕而易舉。譬如我們現在就可以使用Inspec來快速地查詢台灣地區作者發表與半導體專利領域相關的學術研究文獻篇數的前十名。

1.查詢Inspec中收錄有關於半導體專利領域(H01L)相關的學術研究文獻
依據智慧財產局98年年報資料中顯示，98年發明專利公告發證案件數依國際專利三階分類排行的第一名就是國際專利分類中的H01L (半導體裝置；其他類目未包括的電固體裝置) (經濟部智慧財產局, 2010)，而在OvidSP Inspec中將國際專利分類號 (International Patent Classification) 的欄位定義為ic，因此我們可以先查詢到在Inspec中與H01L專利相關的學術文獻總共有767,200篇。(以H01L之後加上*號查詢，表示專利分類號開頭只要是H01L的文獻都可以被搜尋到)



2.查詢Inspec中收錄台灣出版或文獻作者來自於台灣的資料
接下來再指定文獻出版國家(欄位代碼為cp)或作者服務單位(欄位代碼為in)為台灣來查詢可得文獻有166,673篇，最後將這兩個結果交集查詢，就可以得到知道台灣地區作者發表與半導體專利領域相關的學術研究文獻總共有23,037篇。



3.合併第1及第2項檢索結果，在Result Tools中以Author篩選出前十名
再點選Display瀏覽檢索結果時，就可以直接利用右方的Result Tools中的Filter功能，展開Author，就可以馬上發現台灣地區作者發表與半導體專利領域相關的學術研究文獻篇數的前十名，並且可以一一點選瀏覽每個作者發表的文獻資料。



因此，不論是期刊、會議論文集等非專利文獻，在Inspec檢索時，都可以透過IPC分類號的加入，讓我們在閱讀非專利文獻時，可以快速地和相關專利領域結合，不論是後續研究技術的追蹤、專利地圖的整理與組織，都可以化解原本必須以人工處理非專利文獻的專利分類的負擔與困難。

在學術領域中，傳統上會運用期刊論文的數量與品質作為研究評鑑標準，但是近年來因為智慧財產權和知識經濟的重視，專利也是展現研究成果的重要形式，因此專利的產出情況也逐漸受到學術評價的重視。但是由於期刊文獻和專利往往處於不同的查詢系統及分類方式，以前我們往往花很多人工處理的時間來將專利資料和學術文獻做人工非自動化的知識盤整。現在有了Inspec中的國際專利分類號的加入，所有的資訊都可以透過IPC統一的分類來做盤點與整理，這兩類資訊將可以透過Inspec水乳交融成為寶貴的智慧財產。

引用資料：

• IET. (2010年1月). International Patent Classification. 2010年8月13日 擷取自 IET: http://www.theiet.org/publishing/inspec/about/records/IPC.cfm
• 經濟部智慧財產局. (2010). 經濟部智慧財產局 九十八年年報. 台北市: 經濟部智慧財產局.

參考資源：
資料庫名稱：Inpsec 物理與電子電機資料庫
出版社：Ovid
內容屬性：索摘型資料庫
適用對象：自然科學類、數學及電算機科學類、工程學類
收錄內容及說明：由IET英國電機工程師學會所出版，是基礎科學中最重要的資訊入口，目前收錄過1,100萬篇文獻，包含全球80個國家的出版物，共收錄超過4000種的科學與技術類期刊，與2200種會議論文、相關技術報告、圖書、學位論文及專利等。Inspec資料庫加值提供高質素索引，加上完善的檢索平台幫助讀者找到最準確的文獻。透過加值欄位協助檢索，清楚定義主題間的關聯，協助研究人員進一步搜尋相關文獻。
收錄主題：Inspec資料庫提供物理、電機工程、電子學、通訊、計算機及控制工程、資訊技術及製造與生產工程文獻摘要，引領您擷取全球在這些領域的科技文獻。Inspec亦包括跨學科文獻，如材料科學、海洋學、核子工程、地球物理學、生物醫學工程及生物物理學等文獻。

歡迎申請試用：products@flysheet.com.tw

飛資得資訊 | 李紹迪 提供